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4200-SCS半導體特性分析系統是用于器件、材料和半導體工藝參數分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數分析儀具有無(wú)可比擬的測量靈敏度和精度，同時(shí)繼承了嵌入式Windows操作系統合及時(shí)利交互式測試環(huán)境，為半導體科研及產(chǎn)業(yè)用戶(hù)進(jìn)行半導體器件特性分析提供了直觀(guān)而高級的功能。它是一套功能強大的單機解決方案。 4200-SCS半導體特性分析系統采用了模塊化、可配置、可升級的架構。這使得它能夠準確滿(mǎn)足當前的測量需求，也可以模塊擴展以滿(mǎn)足后續的需求。 下載： 
2013122415.pdf
(1.64 MB)
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