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IAR宣布，對VS Code中的調試擴展IAR C-SPY調試器進(jìn)行了重大升級。此次升級引入了IAR的Listwindow技術(shù)，進(jìn)一步提升了調試能力，使IAR C-SPY調試器在VS Code環(huán)境中成為嵌入式設備調試方面的全新標桿。 全新的Listwindow技術(shù)為開(kāi)發(fā)者帶來(lái)了強大的實(shí)時(shí)數據可視化與操作能力，大幅提升了數組和數據結構的調試效率。這項功能專(zhuān)為現代嵌入式開(kāi)發(fā)者設計，滿(mǎn)足他們對高效編碼工具的需求，可顯著(zhù)縮短調試時(shí)間。通過(guò)這一更新，IAR再次兌現了助力工程師提升生產(chǎn)力的承諾。在嵌入式系統廣泛應用的當下，這一技術(shù)進(jìn)步將幫助開(kāi)發(fā)者持續保持高質(zhì)量和高性能的開(kāi)發(fā)水準。 功能亮點(diǎn)： • 先進(jìn)的Listwindow技術(shù)：提供對代碼行為的清晰洞察，輕松增強調試能力，包括完整的Trace和Watch功能。 • 全面的斷點(diǎn)管理：賦予開(kāi)發(fā)者更靈活的調試控制，簡(jiǎn)化問(wèn)題解決，優(yōu)化解決流程。 • 靈活的調試啟動(dòng)策略：適配多種開(kāi)發(fā)環(huán)境，確保在各種開(kāi)發(fā)環(huán)境中無(wú)縫運行。 為開(kāi)發(fā)者和團隊帶來(lái)的優(yōu)勢 在嵌入式軟件開(kāi)發(fā)中，效率和精準性至關(guān)重要，哪怕是微小的錯誤都可能引發(fā)嚴重問(wèn)題或項目延遲。調試工作往往占據開(kāi)發(fā)周期的50%到80%，而IAR C-SPY調試器憑借其強大功能，能夠顯著(zhù)提升調試效率。通過(guò)大幅縮短這一耗時(shí)環(huán)節，IAR C-SPY可提高開(kāi)發(fā)人員的效率，并讓開(kāi)發(fā)者專(zhuān)注于解決問(wèn)題與技術(shù)創(chuàng )新。 IAR首席技術(shù)官Anders Holmberg表示：“通過(guò)IAR的C-SPY調試擴展，開(kāi)發(fā)者可以在VS Code中輕松使用先進(jìn)的調試功能。我們深知嵌入式系統開(kāi)發(fā)面臨的挑戰，而精準調試對于確保高質(zhì)量的結果至關(guān)重要。這次更新顯著(zhù)提升了調試信息可視化功能，讓開(kāi)發(fā)者能更便捷地實(shí)時(shí)排查復雜問(wèn)題�！� IAR C-SPY調試器與VS Code的集成，為開(kāi)發(fā)者提供了強大的功能支持，能夠滿(mǎn)足行業(yè)標準，適用于各種開(kāi)發(fā)場(chǎng)景，確保開(kāi)發(fā)者擁有在快速發(fā)展的技術(shù)環(huán)境中所需的工具。借助這些工具，開(kāi)發(fā)者可以大幅縮短調試時(shí)間，從而騰出時(shí)間專(zhuān)注于創(chuàng )新和開(kāi)發(fā)。 即刻訪(fǎng)問(wèn)iar.com/vscode，探索IAR擴展如何提升您的編碼和調試效率。 |
