ROHM推出實(shí)現業(yè)界超低導通電阻的小型MOSFET,助力快速充電應用

發(fā)布時(shí)間:2025-5-15 21:36    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: AW2K21 , MOSFET , 快速充電 , 快充
ROHM(總部位于日本京都市)今日宣布,推出30V耐壓共源Nch MOSFET*1新產(chǎn)品“AW2K21”,其封裝尺寸僅為2.0mm×2.0mm,導通電阻*2低至2.0mΩ(Typ.),達到業(yè)界先進(jìn)水平。



新產(chǎn)品采用ROHM自有結構,不僅提高器件集成度,還降低單位芯片面積的導通電阻。另外,通過(guò)在一個(gè)器件中內置雙MOSFET的結構設計,僅需1枚新產(chǎn)品即可滿(mǎn)足雙向供電電路所需的雙向保護等應用需求。

新產(chǎn)品中的ROHM自有結構能夠將通常垂直溝槽MOS結構中位于背面的漏極引腳置于器件表面,并采用了WLCSP*3封裝。WLCSP能夠增加器件內部芯片面積的比例,從而降低新產(chǎn)品的單位面積導通電阻。導通電阻的降低不僅減少了功率損耗,還有助于支持大電流,使新產(chǎn)品能夠以超小體積支持大功率快速充電。例如,對小型設備的雙向供電電路進(jìn)行比較后發(fā)現,使用普通產(chǎn)品需要2枚3.3mm×3.3mm的產(chǎn)品,而使用新產(chǎn)品僅需1枚2.0mm×2.0mm的產(chǎn)品即可,器件面積可減少約81%,導通電阻可降低約33%。即使與通常被認為導通電阻較低的同等尺寸GaN HEMT*4相比,新產(chǎn)品的導通電阻也降低了約50%。因此,這款兼具低導通電阻和超小體積的“AW2K21”產(chǎn)品有助于降低應用產(chǎn)品的功耗并節省空間。

另外,新產(chǎn)品還可作為負載開(kāi)關(guān)應用中的單向保護MOSFET使用,在這種情況下也實(shí)現了業(yè)界超低導通電阻。

新產(chǎn)品已于2025年4月開(kāi)始暫以月產(chǎn)50萬(wàn)個(gè)的規模投入量產(chǎn)(樣品價(jià)格500日元/個(gè),不含稅)。新產(chǎn)品在電商平臺將逐步銷(xiāo)售。

ROHM還在開(kāi)發(fā)更小體積的1.2mm×1.2mm產(chǎn)品。未來(lái),ROHM將繼續致力于提供更加節省空間并進(jìn)一步提升效率的產(chǎn)品,助力應用產(chǎn)品的小型化和節能化發(fā)展,為實(shí)現可持續發(fā)展社會(huì )貢獻力量。



<開(kāi)發(fā)背景>

近年來(lái),為縮短充電時(shí)間,智能手機等配備大容量電池的小型設備中,配備快速充電功能的產(chǎn)品日益增多。這類(lèi)設備需要具備雙向保護功能以防止在非供電狀態(tài)時(shí)電流反向流入外圍IC等器件。此外,為了在快速充電時(shí)支持大電流,智能手機等制造商對MOSFET有嚴格的規格要求,如最大電流為20A、擊穿電壓*5為28V至30V、導通電阻為5mΩ以下等。然而,普通MOSFET產(chǎn)品若要滿(mǎn)足這些要求,就需要使用2枚導通電阻較低的大體積MOSFET,而這會(huì )導致安裝面積增加。為了解決這個(gè)問(wèn)題,ROHM開(kāi)發(fā)出采用超小型封裝并具備低導通電阻的MOSFET“AW2K21”,非常適用于大功率快速充電應用。

<產(chǎn)品主要特性>



<應用示例>

・智能手機
平板電腦
・筆記本電腦
・VR(Virtual Reality)眼鏡
・可穿戴設備
・掌上游戲機
・小型打印機
・液晶顯示器
・無(wú)人機

此外,新產(chǎn)品還適用于其他配備快速充電功能的小型設備等眾多應用。

<電商銷(xiāo)售信息>

發(fā)售時(shí)間:2025年4月起
新產(chǎn)品在電商平臺將逐步發(fā)售。
產(chǎn)品型號:AW2K21

<術(shù)語(yǔ)解說(shuō)>

*1)MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor的縮寫(xiě))
一種采用金屬-氧化物-半導體結構的場(chǎng)效應晶體管,是FET中最常用的類(lèi)型。
通常由“柵極”、“漏極”和“源極”三個(gè)引腳組成。其工作原理是通過(guò)向控制用的柵極施加電壓,增加漏極流向源極的電流。
Nch MOSFET是一種通過(guò)向柵極施加相對于源極為正的電壓而導通的MOSFET。
共源結構的MOSFET內置兩個(gè)MOSFET器件,它們共享源極引腳。

*2)導通電阻
MOSFET工作(導通)時(shí)漏極與源極間的電阻值。數值越小,工作時(shí)的損耗(功率損耗)越小。

*3)WLCSP(Wafer Level Chip Scale Package)
在晶圓狀態(tài)下完成引腳成型和布線(xiàn),隨后切割成芯片的超小型封裝。與將晶圓切割成芯片后通過(guò)樹(shù)脂模塑形成引腳等的普通封裝形式不同,這種封裝可以做到與內部的半導體芯片相同大小,因此可以縮減封裝的尺寸。

*4)GaN HEMT
GaN(氮化鎵)是一種用于新一代功率元器件的化合物半導體材料,與普通的半導體材料Si(硅)相比,其物性更優(yōu)異,開(kāi)關(guān)速度更快,支持高頻率工作。
HEMT是High Electron Mobility Transistor(高電子遷移率晶體管)的英文首字母縮寫(xiě)。

*5)擊穿電壓
MOSFET漏極和源極之間可施加的最大電壓。如果超過(guò)該電壓,會(huì )發(fā)生絕緣擊穿,導致器件無(wú)法正常工作。

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