電阻在負載狀態(tài)下，由于電流作功發(fā)熱而引起電阻的溫升，從而使其電阻值發(fā)生變化。這種現象稱(chēng)為電阻的負載效應。因此電阻的溫升和其負載之間的普通關(guān)系可以用一個(gè)負載的冪級數來(lái)描述�？紤]到在電 ...
電阻率的測量方法是測量電阻，然后再考慮幾何因素將其變換成表面電阻率或體積電阻率。測量絕緣材料電阻的理想方法是向樣品施加一個(gè)已知的電壓，再使用靜電計或皮安計測量產(chǎn)生的電流。為了考慮樣 ...
測量導體電阻率的方法是通過(guò)一對引線(xiàn)強制電流流過(guò)樣品，用另一對引線(xiàn)測量其電壓降來(lái)決定已知幾何尺寸的樣品的電阻。雖然，測量電阻率使用的具體方法決定于樣品的大小和形狀。但是所有的方法都需 ...
電子、溫度、功率、壓力的測量最常使用手持式設備，一些用戶(hù)很喜歡這種測量方法的便捷性，購買(mǎi)量將會(huì )增加。
手機和其他電子設備的尺寸正在逐漸縮小，測試測量設備也不甘落后，手持式設備對 ...
接觸電阻就是電流流過(guò)閉合的接觸點(diǎn)對時(shí)的電阻。這類(lèi)測量是在諸如連接器、繼電器和開(kāi)關(guān)等元件上進(jìn)行的。接觸電阻一般非常小其范圍在微歐姆到幾個(gè)歐姆之間。根據器件的類(lèi)型和應用的情況，測量的方 ...
當介電材料中隨機指向的永久分子偶極子在外電場(chǎng)的作用下排列整齊時(shí)，就發(fā)生了介電吸收現象。電容器從放電電路斷開(kāi)以后，電容器中保持剩余的電荷，從而在電容器的端子之間重新建立起電壓。
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測試半導體器件和晶圓片（Wafer）常常要涉及到測量小電流。其中有些測試工作包括各種泄漏電流的測量。另一些對于晶圓片級半導體的弱電流測量則通常與介電材料（氧化物或化合物）的質(zhì)量有關(guān)。這 ...
濾波器組頻率響應的研究是一個(gè)非常復雜的課題。這方面的大多數文章只研究穩定狀態(tài)下的響應，事實(shí)上，雷達和其它突發(fā)方式的信號具有瞬時(shí)的特性。因此，了解濾波器組的瞬時(shí)性能是非常重要的。一般 ...
由于市場(chǎng)因素，一直要求測試儀器演進(jìn)得與無(wú)線(xiàn)技術(shù)本身一樣快。例如，測試低電平信號的能力正變得日益重要，不僅是檢測干擾，還用于無(wú)線(xiàn)系統的規劃。這是因為如上所述的RF頻譜日益擁擠。實(shí)際上， ...
一．連接、配線(xiàn)和電纜
系統中使用的連接器和電纜的類(lèi)型取決于使用的開(kāi)關(guān)卡類(lèi)型和被切換的信號。一般而言，開(kāi)關(guān)卡有4種連接類(lèi)型：螺栓端子、連接頭、同軸連接器和同軸三柱器。
對于螺栓 ...
擴展電阻技術(shù)（spreading resistance profile,SRP）由于其優(yōu)越的空間分辨率越來(lái)越廣泛地應用在外延片和IC 圖形片測試中。SRP 技術(shù)既可以測量外延片縱向電阻變化，也可以測量外延層厚度、過(guò)渡區 ...
一、前言
芯片實(shí)驗室（Lab-on-a-chip）或稱(chēng)微全分析系統（Miniaturized Total Analysis System, µ-TAS）是指把生物和化學(xué)等領(lǐng)域中所涉及的樣品制備、生物與化學(xué)反應、分離檢測等基本操 ...
