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NI（美國國家儀器，National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng)NI）推出PXIe-4163高密度源測量單元（SMU），該測量單元提供了比以往NI PXI SMU高達6倍的直流通道密度，適用于測試RF、MEMS以及混合信號和其他模擬半導體元件。 NI全球銷(xiāo)售和市場(chǎng)執行副總裁Eric Starkloff表示：“5G、物聯(lián)網(wǎng)和自動(dòng)駕駛汽車(chē)等革命性的技術(shù)發(fā)展給半導體企業(yè)帶來(lái)持續的壓力。無(wú)論是實(shí)驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車(chē)間，都需要采用更高效的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰略重點(diǎn)。我們正在擴展我們的軟件平臺和PXI功能，以幫助芯片制造商應對他們面臨的最大挑戰，這一點(diǎn)通過(guò)NI最新的PXI SMU可以完全體現出來(lái)�！� 由于其高吞吐量、高性?xún)r(jià)比和占地面積小，NI的半導體測試系統（STS）正在快速應用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163 SMU則進(jìn)一步增強了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點(diǎn)應用具有更高的并行性，以及在生產(chǎn)中提供實(shí)驗室級別的測量質(zhì)量。利用這一組合，工程師在實(shí)驗室和生產(chǎn)車(chē)間中可以使用相同的儀器進(jìn)行驗證，從而減少了測量數據關(guān)聯(lián)的挑戰，進(jìn)而縮短上市時(shí)間。 工程師可以在STS配置或單獨的PXI系統中使用全新的PXIe-4163 SMU。 主要產(chǎn)品功能包括： • 在單個(gè)PXI Express插槽中提供多達24路通道 • 每通道電壓范圍+/- 24 V • 每通道高達100 mA源極/漏極電流 • 100 pA電流靈敏度 • 高達100 kS/s采樣率和更新速率 • 采用SourceAdapt技術(shù)，可最小化過(guò)沖和振動(dòng) • 交互式配置和調試軟件 • 在單個(gè)PXI機箱中提供高達408個(gè)高精度SMU通道（4U機架空間） • 受到STS全面支持，包括系統級布線(xiàn)、校準和引腳映射支持 STS于2014年推出，為半導體生產(chǎn)提供了顛覆性的測試方法。它基于NI PXI平臺，可以幫助工程師構建更智能的測試系統。PXI平臺包括1 GHz帶寬矢量信號收發(fā)儀 、fA級SMU 、TestStand業(yè)界領(lǐng)先的商用現成測試管理軟件以及頻率從DC涵蓋到mmWave的600多種PXI產(chǎn)品。 如需了解更多關(guān)于STS的功能，請訪(fǎng)問(wèn)www.ni.com/sts/。 |
