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半導體測試系統（STS）系列產(chǎn)品是一套利用NI測試技術(shù)的產(chǎn)品級測試系統，適用于半導體生產(chǎn)測試環(huán)境。STS在完全封閉的測試頭里面整合了NI PXI平臺、TestStand測試管理軟件以及LabVIEW圖形化編程工具。它采用“集成到測試頭”的設計，把產(chǎn)品的所有關(guān)鍵測試資源整合在儀器，這些測試資源包括系統控制器、直流交流電源、射頻儀器、待測設備接口以及分揀儀器和探頭接口。這樣的緊湊型設計減小了額外的占地空間，降低了功耗，減輕了傳統ATE測試員的維護負擔，從而節約了測試成本。此外，STS采用開(kāi)放的、模塊化的設計，使您可以利用最新的工業(yè)標準的PXI模塊，獲得更多的儀器資源和更強大的計算能力。 資料下載： 
NI半導體測試系統STS_Flyer_CN.pdf
(1.14 MB)
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