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一、系統背景 電阻測試是表征材料特性的較常用的測試手段，在某些應用中，用戶(hù)需要進(jìn)行極端微小電阻（Ultra-lowresistance）測試，例如納米材料，超導材料，繼電器開(kāi)關(guān)，低電阻材料、連接器的測試，或者精密的熱量測定和研究領(lǐng)域。這些被測件通常具有非常高的導電性和非常小的電阻阻值，對測試連接方案有很大挑戰。在進(jìn)行這類(lèi)材料和器件的測試過(guò)程中，為了最大限度的降低被測設備的自熱效應，確保待測件的安全和測量的準確性，通常會(huì )使用加流測壓的方式，在被測物兩端施加可控的微弱精密電流信號，通過(guò)歐姆定律測定被測件的電阻阻值。 
上圖為融化斷裂的納米管，由于施加電流過(guò)大自熱引起斷裂 在微小電阻測試領(lǐng)域，泰克公司提供的微小電阻測試 方 案， 通 過(guò) 使 用 吉 時(shí) 利 高 精 度 電 流 源 622X（100fA~100mA輸出可調）或 2400 系列源表，以及納伏表 2182A（1nV 靈敏度）組合成為完備的測試解決方案，完美解決了在微小電阻測試過(guò)程中經(jīng)常遇到的問(wèn)題，使電阻測量靈敏度高達 10nΩ。 配合上位機軟件和測試夾具，可以一站式解決用戶(hù)在儀表與待測件連接，測試結果存儲，以及數據分析過(guò)程中遇到的繁雜問(wèn)題，提高測試效率。 二、方案特點(diǎn)極高的電阻測試分辨率和大測試量程相比其他方法，622X + 2182A 方案提供了高達 10nΩ的電阻測試分辨率，提供了極高的性?xún)r(jià)比。更好的發(fā)熱控制622X 電流源輸出的電流分辨率高可以達到 100fA，可以精確控制加載在待測件兩端的電流大小，確保待測件處在安全狀態(tài)下更先進(jìn)的測試方法，消除熱電動(dòng)勢
系統主要由 622X 高精度電流源（或 2400 系列高精度源表）、2182A 納伏表、測試夾具、轉接盒和上位機軟件構成。
622X 精密電流源可以輸出正負電流，編程分辨率高達100fA，6221 可以輸出帶寬在 1mHz ~ 100KHz 的交流和任意電流波形
2182A 具備 1nV 電壓測試分辨率，提供兩個(gè)獨立測試通道，可以與622X 配合實(shí)現 Delta Mode 測試。
CT-MICR-ADP 轉接盒 方案還提供專(zhuān)用轉接頭配件 CT-MICR-ADP，可以將622X 和 2182A 的各種輸出接口（插片或者鱷魚(yú)夾）統一轉接為標準的 4 終端 BNC 接口，方便與其他夾具或者探針臺進(jìn)行互連。
通過(guò) CT-MICR-ADP 連接微小表面貼裝器件的夾具 上位機測試軟件 Cyclestar-MICR 提供了多種測試模式，包括 R-T 功能，電流掃描測試功能，Delta Mode模式。
在 Delta Mode 下的軟件測試界面 軟件的 Pro 高級版還集成了脈沖測試功能，微分電導測試模式和 622X 任意波形輸出功能。
Pro 版本提供的脈沖、微分電導和任意波形輸出功能 一體化測試方案可以幫助客戶(hù)在短時(shí)間內搭建起微小電阻測試環(huán)境，針對不同物理尺寸，不同連接方式，和不同測試方法都可以快速方便的進(jìn)行連接測試，并在電腦端直接記錄獲取數據進(jìn)行后續分析。 四、系統結構
使用 CT-MICR-ADP 轉接盒還可以將測試系統與探針臺或其他夾具進(jìn)行連接
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