ASML和IMEC啟用聯(lián)合High-NA EUV光刻實(shí)驗室

發(fā)布時(shí)間:2024-6-4 09:50    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: ASML , IMEC , High-NA , EUV , 光刻實(shí)驗室
來(lái)源:大半導體產(chǎn)業(yè)網(wǎng)

自ASML官網(wǎng)獲悉,6月3日,比利時(shí)微電子研究中心(imec)與阿斯麥(ASML)宣布在荷蘭費爾德霍芬(Veldhoven)開(kāi)設聯(lián)合High-NA EUV光刻實(shí)驗室(High NA EUV Lithography Lab),由ASML和imec共同運營(yíng)。

聲明中稱(chēng),經(jīng)過(guò)多年的構建和集成,該實(shí)驗室已準備好為領(lǐng)先的邏輯和存儲芯片制造商以及先進(jìn)材料和設備供應商提供第一臺原型高數值孔徑EUV掃描儀(TWINSCAN EXE:5000)以及周?chē)奶幚砗陀嬃抗ぞ摺?br />
據悉,該聯(lián)合實(shí)驗室的開(kāi)放是High-NA EUV大批量生產(chǎn)準備的一個(gè)里程碑,預計將在2025-2026年期間實(shí)現。通過(guò)向領(lǐng)先的邏輯和存儲芯片制造商提供High-NA EUV原型掃描儀和周邊工具(包括涂層和開(kāi)發(fā)軌道,計量工具,晶圓和掩膜處理系統),imec和ASML支持他們降低技術(shù)風(fēng)險,并在掃描儀在其生產(chǎn)晶圓廠(chǎng)中運行之前開(kāi)發(fā)私有的High-NA EUV用例。此外,還將向更廣泛的材料和設備供應商生態(tài)系統以及imec的高數值孔徑圖案化計劃提供訪(fǎng)問(wèn)權限。
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