用于半導體可靠性的短脈沖強制性測試

發(fā)布時(shí)間：2011-3-8 11:53    發(fā)布者：嵌入式公社
關(guān)鍵詞： 半導體 , 短脈沖 , 可靠性 , 強制性測試
開(kāi)發(fā)IC讓它能工作是一回事；而讓它耐用就是另一回事了。隨著(zhù)新技術(shù)出現新的可靠性問(wèn)題，后者變得越來(lái)越難。在封裝之前，在晶圓上進(jìn)行脈沖測試會(huì )有幫助。

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