東芝推出具有低導通電阻和高可靠性的適用于車(chē)載牽引逆變器的最新款1200 V SiC MOSFET

發(fā)布時(shí)間:2024-11-12 20:34    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: 牽引逆變 , SiC
東芝電子元件及存儲裝置株式會(huì )社(“東芝”)今日宣布,最新開(kāi)發(fā)出一款用于車(chē)載牽引逆變器[1]的裸片[2]1200 V碳化硅(SiC)MOSFET“X5M007E120”,其創(chuàng )新的結構可實(shí)現低導通電阻和高可靠性。X5M007E120現已開(kāi)始提供測試樣品,供客戶(hù)評估。



當典型SiC MOSFET的體二極管在反向傳導操作[3]期間雙極通電時(shí),其可靠性會(huì )因導通電阻增加而降低。東芝SiC MOSFET通過(guò)在MOSFET中嵌入SBD(肖特基勢壘二極管)以弱化體二極管工作的器件結構來(lái)緩解上述問(wèn)題,但如若將SBD布置在芯片上,會(huì )減少為通道提供的板面積,板面積不僅可決定MOSFET導通工作的電阻,而且還可增加芯片的導通電阻。

X5M007E120中嵌入的SBD采用格紋形態(tài)排列,沒(méi)有采用常用的條形形態(tài),這種排列可高效抑制器件體二極管的雙極通電,而且即便占用相同的SBD掛載面積,也能將單極工作的上限提升到大約兩倍的當前面積。此外,也可針對條形陣列提高通道密度,而且單位面積的導通電阻很低,大約降低了20 %至30 %[5]。這一提高的性能、低導通電阻以及針對反向導通工作保持的可靠性,可節省用于電機控制的逆變器的電能,例如牽引逆變器。

降低SiC MOSFET的導通電阻,會(huì )導致短路[6]時(shí)流過(guò)MOSFET的電流過(guò)大,進(jìn)而降低短路耐久性。此外,增強嵌入式SBD的傳導,提高反向傳導工作的可靠性,也會(huì )增大短路時(shí)的漏電流,從而可再次降低短路耐久性。最新裸片具有深勢壘結構設計[7],可在短路狀態(tài)下抑制MOSFET的過(guò)大電流和SBD的漏電流,這可在提高其耐久性的同時(shí),保持針對反向傳導工作的極高可靠性。

用戶(hù)可根據其特定的設計需求定制裸片,實(shí)現面向其應用的解決方案。

東芝預計將在2025年提供X5M007E120的工程樣品,并在2026年投入量產(chǎn),同時(shí),其將進(jìn)一步探索器件特征的改進(jìn)。

東芝將為客戶(hù)提供易用性和性能都更高的電源半導體產(chǎn)品,充分滿(mǎn)足電機控制逆變器和電動(dòng)汽車(chē)電力控制系統等能效都至關(guān)重要的領(lǐng)域的應用需求,從而為實(shí)現脫碳社會(huì )做出貢獻。


圖1:外觀(guān)(俯視圖)與內部電路


圖2:現有條形形態(tài)嵌入式SBD的MOSFET與格紋形態(tài)嵌入式SBD的MOSFET的原理圖


圖3:條形形態(tài)嵌入式SBD的MOSFET與格紋形態(tài)嵌入式SBD的MOSFET的單極傳導及導通電阻臨界電流密度測量值(東芝調查)


圖4:典型SiC MOSFET與東芝SiC MOSFET(將SBD嵌入MOSFET芯片的MOSFET)的比較


圖5:格紋形態(tài)嵌入式SBD的現有MOSFET與深勢壘結構設計MOSFET的原理圖


圖6:條形形態(tài)嵌入式SBD和深勢壘結構設計MOSFET的短路耐受時(shí)間和導通電阻的測量值(東芝調查)

        應用:
-        車(chē)載牽引逆變器

        特性:
-        低導通電阻與高可靠性
-        車(chē)載裸片
-        通過(guò)AEC-Q100認證
-        漏極—源極電壓額定值:VDSS=1200 V
-        漏極電流(DC)額定值:ID=(229)A[8]
-        低導通電阻:
RDS(ON)=7.2 mΩ(典型值)(VGS=+18 V、Ta=25 °C)
RDS(ON)=12.1 mΩ(典型值)(VGS=+18 V、Ta=175 °C)

        主要規格:
(除非另有說(shuō)明,Ta=25 °C)

器件型號
X5M007E120
封裝
東芝封裝名稱(chēng)
2-7Q1A
尺寸(mm)
典型值6.0×7.0
絕對
漏極—源極電壓VDSS(V)
1200
最大值
柵極—源極電壓VGSS(V)
+25/–10
額定值
漏極電流(DC)ID(A)
(229)[8]
 
漏極電流(脈沖)ID Pulse(A)
(458)[8]
 
通道溫度Tch(°C)
175
電氣柵極閾值電壓VDS=10 V、典型值4
特征Vth(V)ID=16.8 mA
 漏源ID=50 A、典型值7.2
 導通電阻VGS=+18 V
 RDS(on)(mΩ)ID=50 A、典型值12.1
  VGS=+18 V、
  Ta=175 °C
 正向電壓ISD=50 A、典型值–1.21
 VSD(V)VGS=–5 V
 正向電壓ISD=50 A、典型值–1.40
 VSD(V)VGS=–5 V、
  Ta=175 °C
 內部柵極電阻開(kāi)路漏極、典型值3
 rg(Ω)f=1 MHz



注:
[1] 可將電池供電的DC電源轉換為AC電源并可控制電動(dòng)汽車(chē)(EV)或混合動(dòng)力電動(dòng)車(chē)(HEV)電機的設備。
[2] 未封裝芯片產(chǎn)品。
[3] 電路中電流回流導致的電流從源極流向漏極的工作。
[4] 當正向電壓施加到漏極和源極之間的pn二極管時(shí)的雙極性工作。
[5] 相比使用條形形態(tài)的產(chǎn)品。
[6] 與在正常開(kāi)關(guān)工作期間的短時(shí)間傳導相比,在控制電路故障等異常模式下出現長(cháng)時(shí)間傳導的現象,要求具有在一定短路工作持續時(shí)間內不會(huì )出現故障的強度。
[7] 為控制因高壓而產(chǎn)生的高電場(chǎng)提供的器件結構元件,其會(huì )對器件性能產(chǎn)生重大影響。
[8] 暫定值。

如需了解有關(guān)東芝SiC功率器件的更多信息,請訪(fǎng)問(wèn)以下網(wǎng)址:
SiC功率器件
https://toshiba-semicon-storage. ... tml#SiCPowerDevices


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